航空航天用按钮开关的抗辐射与真空放电特性研究

在航空航天领域，按钮开关作为关键控制元件，其性能直接影响系统可靠性。航空航天环境复杂，存在辐射与真空等特殊条件，研究按钮开关的抗辐射与真空放电特性具有重要意义。

一、抗辐射特性
航空航天中的辐射环境会对按钮开关造成损害。例如，典型国产VDMOS宇航应用的辐照及热应力可靠性研究表明，辐照会导致器件阈值电压、漏电流等关键技术参数变化。为提高抗辐射能力，可从工艺、电路、版图三个角度进行加固设计。如采用SOI工艺，对电路进行抗辐照设计，在版图设计上对模拟地与功率地、模拟电源与功率电源分开设计，对开关噪声较大的输出功率级采用衬底环隔离。

二、真空放电特性
真空环境中，按钮开关可能发生放电现象。真空放电是靠阴极斑点维持的，完成主间隙的导通首先要在主阴极上形成斑点。以真空触发开关（TVS）为例，其触发结构不同会影响放电特性。沿面击穿型触发结构，触发电极与主电极间陶瓷沿面距离较小，为降低触发电压和触发能量，可在陶瓷表面涂敷触发材料，但触发寿命较短。

三、研究展望
目前，航空航天用按钮开关在抗辐射与真空放电特性方面仍存在一些问题。未来，可进一步深入研究辐射效应的机理，开发更精确的辐射模型和仿真库，以提高电路的抗辐照能力。同时，优化按钮开关的触发结构，提高其真空放电性能和寿命，满足航空航天领域对高性能按钮开关的需求。

通过对航空航天用按钮开关的抗辐射与真空放电特性研究，可为相关产品的设计和应用提供理论支持和技术保障，推动航空航天技术的发展。